Tessent TestKompress

Tessent® TestKompress® обеспечивает максимальное качество детерминированных тестов при минимальной стоимости тестирования. Решение использует патентованый алгоритм сжатия внутри чипа для создания наборов тестовых последовательностей, позволяющих существенно сократить время тестирования и объём данных, загружаемых в чип тестовым оборудованием.

Возможности и преимущества

  • Всестороннее тестирование цифровой логики.
  • Быстрая генерация тестовых последовательностей высокопроизводительными алгоритмами ATPG и распределённые вычисления.
  • Широкий набор моделей неисправностей, включающий константные, переходные, малую задержку и пр., обеспечивает наиболее полное обнаружение дефектов.
  • Опция Automotive-grade ATPG позволяет получать чипы без единого дефекта, обнаруживая дефекты внутри ячеек, между соседними ячейками и в межсоединениях.
  • Поддерживает стратегии тестирования с малым количеством задействованных пинов (начиная с одного канала сканирования).
  • Ошибки можно анализировать в Tessent Diagnosis и Tessent YieldInsight.