Постпроизводственное тестирование микросхем

Решения

Анализ результатов тестов

Tessent® Diagnosis извлекает пользу из неудачных тестов. Благодаря технологии анализа с учётом топологии кристалла, пакет точно идентифицирует расположение и классификацию дефектов, обнаруженных тестами Tessent TestKompress® или Tessent FastScan™.

Tessent Diagnosis получает данные о неисправностях полученные в ходе постпроизводственного тестирования, анализирует тестовые последовательности и исходный проект, классифицирует неисправности, и находит физические и логические места расположения дефектов, являющихся причинами неисправностей.

...

Внешние ссылки

Заинтересовало решение "Анализ результатов тестов"?

Вы можете сами опробовать его. Мы предоставим вам временные лицензии сроком на один месяц и вышлем ссылку на дистрибутив.

Получить лицензии и дистрибутив