Постпроизводственное тестирование микросхем

Внедрение цепей сканирования и анализ тестопригодности

Tessent Scan внедряет в нетлист тестирующие структуры, делая проект полностью пригодным для тестирования путём сканирования и компрессии тестов.

Tessent Scan генерирует и внедряет наиболее эффективную для вашего проекта архитектуру, повышая качество автоматически генерируемых тестов - ATPG. Tessent Scan выполняет замену несканируемых элементов на сканируемые, их соединение, анализ схемы на потенциальные ограничения при тестировании, выполняет проверку тестопригодности, а также автоматически исправляет ошибки.

Внешние ссылки