Постпроизводственное тестирование микросхем

Решения

Генерация тестов

Система автоматической генерации тестов для заказных и полузаказных СБИС с полным сканированием или высоким процентом сканирования.

Наряду с моделями константных неисправностей FastScan поддерживает модели переходных режимов, сбоев частоты переключения, превышения допустимой задержки, отклонения тока в установившемся режиме (IDDQ) и другие модели.

FastScan обладает очень высокой скоростью генерации тестов и встроенными статическим и динамическим алгоритмами сжатия тестовых векторов, что позволяет инженерам сократить цикл разработки вплоть до нескольких дней и даже часов.

Поддержка встроенных генераторов синхросигналов позволяет тестировать кристаллы на рабочей частоте, даже в случае, если эта частота не поддерживается тестовой аппаратурой.

...

Внешние ссылки

Заинтересовало решение "Генерация тестов"?

Вы можете сами опробовать его. Мы предоставим вам временные лицензии сроком на один месяц и вышлем ссылку на дистрибутив.

Получить лицензии и дистрибутив