Система комбинированного тестирования СБИС, состоящая из модуля генерации тестов и встроенной схемы декомпрессии-компрессии. Использует запатентованную технологию встроенного детерминированного тестирования EDT (Embedded Deterministic Test), которая позволяет существенно сократить объем внешних тестовых векторов (до 100 раз) без потери качества тестирования. Встроенный декомпрессор обеспечивает загрузку большого числа внутренних цепей сканирования через небольшое число внешних каналов. Встроенный "компактор" обеспечивает селективную компрессию и вывод из кристалла результатов тестирования. Обе схемы генерируются в виде RTL-кода на VHDL или Verilog, синтезируемого в вентильную схему, не затрагивающую работу критических цепей основного проекта, что является принципиально необходимым требованием при тестировании субмикронных СБИС. TestKompress использует тот же командный интерфейс, что и FastScan, что существенно облегчает его использование в традиционном DFT-маршруте Mentor Graphics.

Datasheet

Страница программы на сайте Mentor Graphics