|
|
|
|
|
|
Иллюстрации
|
|
|
|
|
|
FastScan
|
|
|
|
|
Описание
|
|
|
|
|
|
Система автоматической генерации тестов для заказных и полузаказных СБИС с полным сканированием или высоким процентом сканирования. Наряду с моделями константных неисправностей FastScan поддерживает модели переходных режимов, сбоев частоты переключения, превышения допустимой задержки, отклонения тока в установившемся режиме (IDDQ) и другие модели. FastScan обладает очень высокой скоростью генерации тестов и встроенными статическим и динамическим алгоритмами сжатия тестовых векторов, что позволяет инженерам сократить цикл разработки вплоть до нескольких дней и даже часов. Поддержка встроенных генераторов синхросигналов позволяет тестировать кристаллы на рабочей частоте, даже в случае, если эта частота не поддерживается тестовой аппаратурой. FastScan дополняется рядом опций. Опция FastScan CPA генерирует специализированные тесты для динамического анализа критических путей. Опция FastScan MacroTest предназначена для тестирования небольших встроенных регистровых массивов, схем памяти и встроенных ядер. Опция FastScan Diagnostics анализирует результаты тестирования с целью локализации дефектов.
|
|
|
|
Файлы
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Ссылки
|
|
|
|
|
|
|
|
|
 |
|
